无源元器件测试仪

无源元器件测试仪产品介绍

EXFO(愛斯福) 的CT440可让您快速而准确地测试被动光学元件（例如MUX / DEMUX，滤波器，分离器）和模块（ROADM，WSS）。更重要的是，该装置涵盖了从1240到1680 nm的光谱范围，可以在整个电信频段上进行测量。使用PDL选件，EXFO(愛斯福) CT440可以同时测量插入损耗和偏振相关损耗。

无源元器件测试仪产品优势

全频带扫描
EXFO(愛斯福) CT440（SMF型号）可以在1240至1680 nm之间工作，并与EXFO(愛斯福) 的T100S-HP系列可调雷射*兼容。当使用多个TLS时，EXFO(愛斯福) CT440可以自动在雷射之间切换，以实现无缝的全频带测量。与DUT的单连接意味著不需要外部开关。
快速插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440具有高速电子技术和光学干涉测量技术的*结合。四个集成的检测器使您可以在一次雷射扫描中同时测量动态范围为65 dB的四个通道。此外，在任何扫描速度下都可实现±5 pm的波长精度，因此在测量速度和精度之间没有任何抵触。
准确的插入损耗测量
EXFO(愛斯福) CT440是一种经济高效的解决方案，不会影响性能。凭借其监控光电探测器，可调的采样分辨率，出色的波长精度和内置的波长计，当与可调雷射源和PC相连时，它可以在一个盒子中提供准确测量所需的一切。

主要特点
 

• 快速测量变化函数

• 波长范围为1240-1680 nm（SMF型号）

• PM和PDL选件

• 波长分辨率为1-250 pm

• 波长精度为±5 pm

• 单次扫描的动态范围为65 dB

• 最多可结合4个可调谐激光器（SMF型号）

• 配备四个内部检测器，可通过同步进行扩展

应用
 

• 光子集成电路（PIC）测试

• 波长选择开关测试

• 滤光片测试