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无源元器件测试仪

简要描述:无源元器件测试仪是一种经济高效的解决方案,不会影响性能。凭借其监控光电探测器,可调的采样分辨率,出色的波长精度和内置的波长计,当与可调雷射源和PC相连时,它可以在一个盒子中提供准确测量所需的一切。

  • 产品型号:CT440/440-PDL
  • 厂商性质:生产厂家
  • 更新时间:2021-11-19
  • 访  问  量:21

详细介绍

品牌自营品牌产地类别国产
应用领域化工,生物产业,能源

无源元器件测试仪产品介绍

EXFO(愛斯福) 的CT440可让您快速而准确地测试被动光学元件(例如MUX / DEMUX,滤波器,分离器)和模块(ROADM,WSS)。更重要的是,该装置涵盖了从1240到1680 nm的光谱范围,可以在整个电信频段上进行测量。使用PDL选件,
EXFO(愛斯福) CT440可以同时测量插入损耗和偏振相关损耗。

无源元器件测试仪产品优势

全频带扫描

EXFO(愛斯福) CT440(SMF型号)可以在1240至1680 nm之间工作,并与EXFO(愛斯福) 的T100S-HP系列可调雷射完全兼容。当使用多个TLS时,EXFO(愛斯福) CT440可以自动在雷射之间切换,以实现无缝的全频带测量。与DUT的单连接意味著不需要外部开关。
快速插入损耗测量

EXFO(愛斯福) CT440具有高速电子技术和光学干涉测量技术的独特结合。四个集成的检测器使您可以在一次雷射扫描中同时测量动态范围为65 dB的四个通道。此外,在任何扫描速度下都可实现±5 pm的波长精度,因此在测量速度和精度之间没有任何抵触。
准确的插入损耗测量

EXFO(愛斯福) CT440是一种经济高效的解决方案,不会影响性能。凭借其监控光电探测器,可调的采样分辨率,出色的波长精度和内置的波长计,当与可调雷射源和PC相连时,它可以在一个盒子中提供准确测量所需的一切。

主要特点
 

  • 快速测量变化函数

  • 波长范围为1240-1680 nm(SMF型号)

  • PM和PDL选件

  • 波长分辨率为1-250 pm

  • 波长精度为±5 pm

  • 单次扫描的动态范围为65 dB

  • 最多可结合4个可调谐激光器(SMF型号)

  • 配备四个内部检测器,可通过同步进行扩展


应用
 

  • 光子集成电路(PIC)测试

  • 波长选择开关测试

  • 滤光片测试


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